目錄:儒亞科技（北京）有限公司>>在線分析>>在線X射線熒光元素分析儀>> C-Quand在線X射線熒光法元素分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,石油,能源 |
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C-Quand在線X射線熒光元素分析儀基于成熟的元素分析技術(shù)-EDXRF技術(shù)，也即能量色散X射線熒光技術(shù)。該技術(shù)測量樣品中原子產(chǎn)生的特征X射線光譜，更重要的是，這種測量方法在整個測量過程中是連續(xù)的，而不是只對起始時(shí)間進(jìn)行瞬間測量。
不間斷在線測量提供及時(shí)信息，讓您可以輕松實(shí)現(xiàn)過程控制并優(yōu)化過程控制。C-Quand是為工業(yè)過程控制的特殊需求而設(shè)計(jì)的，它為針對產(chǎn)品環(huán)境的嚴(yán)謹(jǐn)系統(tǒng)提供快捷可靠的化學(xué)分析，C-Quand加上特殊應(yīng)用模塊可滿足各種工業(yè)現(xiàn)場的嚴(yán)格要求。
技術(shù)特點(diǎn)：
使用EDXRF技術(shù)，C-Quand可測量從硅（原子數(shù)14）到鈾（原子數(shù)92）之間的任何元素，濃度范圍從ppm到%，測量的濃度范圍和精度根據(jù)具體應(yīng)用而定。
應(yīng)用領(lǐng)域
XRF法是分析石油產(chǎn)品種總硫含量合適的方法，相比通過流動注射或轉(zhuǎn)化法測二氧化硫和硫化氫得到硫含量的技術(shù)方法相比，當(dāng)檢測樣品的沸點(diǎn)超過450℃時(shí)，不再適合總硫分析，應(yīng)用行業(yè)包括：
C-Quand在線X射線熒光元素分析儀技術(shù)參數(shù)
分析 | |
測量原理 | X射線能量色散技術(shù) 輻射源： X射線管，可定制特殊應(yīng)用探頭 |
元素范圍 | 硅(Si) 到鈾(U) (原子序數(shù)從14 到 92) |
測量范圍 | 濃度等級從 0.5 ppm 到% 等級 (特殊應(yīng)用) |
元素種類 | 每臺儀器多可測量15種元素 |
精度 | 取決于具體應(yīng)用，從 ppm 到 % 等級 穩(wěn) 定性：通常優(yōu)于 0.5%(漂移自動修正) |
標(biāo)樣校準(zhǔn) | 在測量范圍內(nèi)使用標(biāo)準(zhǔn)的校正方法。簡單的實(shí)驗(yàn)室樣品校正和實(shí)驗(yàn)室采集 選項(xiàng)。為了得到更高的靈敏度，在測量輕元素 (Si, P, S, K, Ca, Cl)的時(shí)候， 建 議使用氮?dú)?/span>(N2)進(jìn)行吹掃。 |
中央處理和控制單元 | |
工業(yè)計(jì)算機(jī) | Windows嵌入式操作系統(tǒng)。 15” TFT LCD 液晶彩屏。完整的ASCII 鍵盤 。 多個屏幕(可選) |
模擬輸出 | 獨(dú)立的4–20 mA模擬輸出 |
通訊 | RS485 或 TCP/IP 的網(wǎng)絡(luò)通訊協(xié)議(MODBUS) |
環(huán)境溫度 | 5-40°C |
測量頭 | |
X射線探頭 | 硅漂移探測器，分辨率135eV，低噪聲 |
高壓電源 | 0-50kV |
測量源 | 15W X光射線管，銀制電極 |
采樣窗口 | Be鈹 |
穩(wěn)定性 | 自動偏移校正，自動反向散射峰校正，自動環(huán)境壓力校正 |
現(xiàn)場使用條件要求 | |
電源 | 110-230VAC， 50/60 Hz |
功耗 | 100VA （高溫測量池150VA） |
儀表風(fēng) | 對于Exp型版本以及標(biāo)配氣動閥（可選電動閥）需要<2L/min的儀表風(fēng) |
樣品分析要求 | |
樣品流速 | 0.2-0.5 L/min |
樣品池溫度 | 大可達(dá)80°C |
樣品池壓力 | 標(biāo)準(zhǔn)大氣壓 |
粘度 | <100 cSt (采樣室溫度為80°C) |
污染物 | >10微米需濾除，消除自由水 |
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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